Built-In Self Test device and Phase-Locked Loops including the same, Built-In Self Test scheme and Storage medium storing the same,申请号KR20070074935-传众专利搜索

发明名称	Built-In Self Test device and Phase-Locked Loops including the same, Built-In Self Test scheme and Storage medium storing the same
摘要
申请公布号	KR100940920(B1)	申请公布日期	2010.02.08
申请号	KR20070074935	申请日期	2007.07.26
申请人		发明人
分类号	H03L7/00	主分类号	H03L7/00
代理机构		代理人
主权项
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