| 发明名称 | 用于自动化测试的拓扑适配方法和装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供了一种用于自动化测试的拓扑适配方法，包括：根据物理拓扑的结构和逻辑拓扑的结构，构造物理拓扑矩阵和逻辑拓扑矩阵；根据物理拓扑矩阵和逻辑拓扑矩阵中各元素的值的大小关系以及各元素的类型的一致性，适配物理拓扑和逻辑拓扑；适配成功，输出适配结果。本发明还提供了一种用于自动化测试的拓扑适配装置。本发明能够快速有效地进行逻辑拓扑到物理拓扑的映射，智能地适配测试设备和测试端口，并且按照系统要求进行输出，节约了测试时间，能够适应目前大规模自动化测试的需求。 | ||
| 申请公布号 | CN101639806A | 申请公布日期 | 2010.02.03 |
| 申请号 | CN200910172067.2 | 申请日期 | 2009.09.01 |
| 申请人 | 中兴通讯股份有限公司 | 发明人 | 郇昌波 |
| 分类号 | G06F11/36(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/36(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余 刚;吴孟秋 |
| 主权项 | 1.一种用于自动化测试的拓扑适配方法，其特征在于，包括：根据物理拓扑的结构和逻辑拓扑的结构，构造物理拓扑矩阵和逻辑拓扑矩阵；根据所述物理拓扑矩阵和所述逻辑拓扑矩阵中各元素的值的大小关系以及所述各元素的类型的一致性，适配所述物理拓扑和所述逻辑拓扑；适配成功，输出适配结果。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区科技南路55号 | ||