全光纤型光波粒二象性测量装置

摘要

本发明涉及一种测量光波粒二象性的装置，实现对光波粒二象性的验证和观察。提出了一种结构简单、易于构建、抗干扰性强、易于观察测量结果的光波粒二象性的观测装置。该装置由单光子源、光环型器、X型光分路/合路器依次连接构成，另外再配以两个单光子探测计数器。其物理基础是：测量粒子性时，利用了光子经X型光分路/合路器时的路径随机选择特性，突出显示经典粒子运动轨道、轨迹的特征；测量波动性时，利用了Sagnac干涉仪，光子在X型光分路/合路器再次相遇时的叠加特性，突出显示经典波的干涉特征。

主权项

1.全光纤型光波粒二象性测量装置其特征在于：包括依次连接的单光子源1、光环型器2、X型光分路/合路器3。其中单光子源1的输出端连接光环型器2的同向输入端2a；光环型器2的同向输出端2b连接X型光分路/合路器3的尾纤输入端口3a；光环型器2的反向输出端2c、X型光分路/合路器3的与尾纤输入端口3a同侧的另一尾纤端口3b可同时悬空，也可同时分别连接单光子探测计数器A、B；X型光分路/合路器3的尾纤输出端口3c、3d可同时分别连接单光子探测计数器A、B，也可直接相连接。