发明名称 一种微纳间隙电极的制作方法
摘要 本发明公开了一种微纳间隙电极的制作方法,该方法包括电极图形设计及电极制作;首先设计各电极间隙尺寸在1.2~2.8微米;电极图形为叉指形、锯齿形、方对尖形、方对方形及尖对平形;每单元为5800微米×5800微米,划片槽宽度为100微米,单元各沿边小正方形为金属层,作为电极引出图形,4英寸硅片上设置184个相同单元;然后采用电子束制版,用标准工艺方法对P型100硅片进行清洗、光刻,采用阴版正胶,进行等离子刻蚀,再进行氧化,生长的二氧化硅厚度为1.1μm;电极间隙在纳米级或深亚微米级。本发明制得的电极敏感材料分布规律有序,分布区域十分均匀,适用于需要纳米结构电极间隙的传感器探头。
申请公布号 CN101638215A 申请公布日期 2010.02.03
申请号 CN200910194506.X 申请日期 2009.08.25
申请人 华东师范大学 发明人 姚韡;陈雪皎;游金钏;张健;宣鑫科
分类号 B81C5/00(2006.01)I;B81C1/00(2006.01)I;B82B3/00(2006.01)I 主分类号 B81C5/00(2006.01)I
代理机构 上海蓝迪专利事务所 代理人 徐筱梅
主权项 1、一种微纳间隙电极的制作方法,其特征在于该方法包括以下具体步骤:a)电极图形设计设计各电极间隙尺寸在1.2~2.8微米;电极图形为叉指形、锯齿形、方对尖形、方对方形及尖对平形;每单元为5800微米×5800微米,划片槽宽度为100微米,对角设置十字对准标记,长宽各为50微米,单元各沿边小正方形为金属层,作为电极引出图形,大小为500微米×500微米,中间各图形,电极及电极间隙整体排列,分为长方形类排列和正方形类排列:长方形类排列中,间隙尺寸为2.8微米、2.4微米、2微米或1.8微米的,整体排列大小为220微米×330微米,其上覆盖有金属层,大小为220微米×350微米;间隙尺寸为1.6微米、1.4微米或1.2微米的,整体排列大小为200微米×400微米,其上覆盖有金属层,大小为220×420微米;正方形类排列中,间隙尺寸在1.2~2.8微米的,整体排列大小为350微米×350微米,其上覆盖有金属层,大小为380微米×380微米;4英寸硅片上设置184个相同单元,用于4英寸及4英寸以下硅片的光刻;b)电极制作采用电子束制版;用美国无线电公司(RCA)标准工艺方法对4英寸、3英寸或2英寸P型100硅片进行清洗,然后对硅片进行光刻,采用阴版正胶,进行等离子刻蚀,刻蚀深度为10微米,然后进行氧化,其工艺条件:炉温:1180℃氧气流量500ml/min,氧化时间:先干氧氧化10分钟,再湿氧氧化50分钟,最后再干氧氧化10分钟,所生长的二氧化硅的厚度为1.1μm;电极间隙在纳米级或深亚微米级。
地址 200241上海市闵行区东川路500号