发明名称 半导体元件凹闸之制法
摘要 一种制造一半导体装置之方法,包含:形成一隔离结构于一基板中以界定一主动区;形成一凹槽遮罩图案于该隔离结构与主动区上;蚀刻该隔离结构藉由该凹槽遮罩图案曝光至一特定深度;蚀刻该基板以形成一凹槽图案;以及形成一闸极于凹槽图案上方。
申请公布号 TWI320209 申请公布日期 2010.02.01
申请号 TW095149463 申请日期 2006.12.28
申请人 海力士半导体股份有限公司 发明人 赵瑢泰;金殷美
分类号 H01L21/336;H01L21/8242 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人 何金涂
主权项 一种制造一半导体装置之方法,该方法包含:形成一隔离结构于一基板中以界定一主动区;形成一凹槽遮罩图案于该隔离结构与主动区上方;蚀刻由凹槽遮罩图案所曝光之隔离结构至一特定深度;蚀刻该基板以形成一凹槽图案;以及形成一闸极于凹槽图案上方。
地址 南韩