发明名称 |
Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats, Verfahren zum Herstellen eines Epitaxial-Wafers, III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat und Epitaxial-Wafer |
摘要 |
Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats, ein Verfahren zum Herstellen eines Epitaxial-Wafers, ein III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat und einen Epitaxial-Wafer, wobei die Dicke eines auf dem Substrat oder in dem Wafer ausgebildeten Oxidfilms mit hoher Genauigkeit gesteuert wird und verhindert wird, dass eine Oberfläche des Epitaxial-Wafers rau wird. Das Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats gemäß der vorliegenden Erfindung schließt die im Folgenden aufgeführten Schritte ein. Zunächst wird ein Substrat geschaffen, das aus einem III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat besteht. Danach wird das resultierende Substrat mit einer sauren Lösung gereinigt. Anschließend wird nach dem Reinigen ein Oxidfilm auf dem Substrat mit einem Nass-Verfahren ausgebildet.
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申请公布号 |
DE102009033648(A1) |
申请公布日期 |
2010.01.21 |
申请号 |
DE200910033648 |
申请日期 |
2009.07.17 |
申请人 |
SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD. |
发明人 |
NAKAYAMA, MASAHIRO;HIGUCHI, YASUAKI |
分类号 |
H01L21/302;C30B29/40;H01L21/205 |
主分类号 |
H01L21/302 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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