发明名称 Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats, Verfahren zum Herstellen eines Epitaxial-Wafers, III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat und Epitaxial-Wafer
摘要 Die vorliegende Erfindung schafft ein Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats, ein Verfahren zum Herstellen eines Epitaxial-Wafers, ein III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat und einen Epitaxial-Wafer, wobei die Dicke eines auf dem Substrat oder in dem Wafer ausgebildeten Oxidfilms mit hoher Genauigkeit gesteuert wird und verhindert wird, dass eine Oberfläche des Epitaxial-Wafers rau wird. Das Verfahren zum Herstellen eines III-V-Verbindungshalbleiter-Substrats gemäß der vorliegenden Erfindung schließt die im Folgenden aufgeführten Schritte ein. Zunächst wird ein Substrat geschaffen, das aus einem III-V-Verbindungshalbleiter-Substrat besteht. Danach wird das resultierende Substrat mit einer sauren Lösung gereinigt. Anschließend wird nach dem Reinigen ein Oxidfilm auf dem Substrat mit einem Nass-Verfahren ausgebildet.
申请公布号 DE102009033648(A1) 申请公布日期 2010.01.21
申请号 DE200910033648 申请日期 2009.07.17
申请人 SUMITOMO ELECTRIC INDUSTRIES LTD. 发明人 NAKAYAMA, MASAHIRO;HIGUCHI, YASUAKI
分类号 H01L21/302;C30B29/40;H01L21/205 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
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