发明名称 VERFAHREN UND STRUKTUR ZUR ENTWICKLUNG EINES TESTPROGRAMMS FÜR INTEGRIERTE HALBLEITERSCHALTUNGEN
摘要
申请公布号 DE602005018204(D1) 申请公布日期 2010.01.21
申请号 DE200560018204T 申请日期 2005.05.23
申请人 ADVANTEST CORP. 发明人 PRAMANICK, ANKAN;ELSTON, MARK;KRISHNASWAMY, RAMACHANDRAN;ADACHI, TOSHIAKI
分类号 G01R31/3183;G06F11/263 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
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