发明名称 |
常温常压下等离子体化学气相沉积制备纳米晶TiO<sub>2</sub>薄膜的方法 |
摘要 |
一种常温常压下等离子体化学气相沉积制备纳米晶TiO<sub>2</sub>薄膜的方法,其特征是采用共面式介质阻挡放电,在基体与绝缘介质之间的短间隙产生薄层等离子体,TiCl<sub>4</sub>蒸气与氧气在薄层等离子体区反应并沉积到基体上,在常温常压下直接制得具有光催化活性的纳米晶TiO<sub>2</sub>薄膜。薄膜由20~30nm的晶粒组成,晶粒具有以锐钛矿相为主、仅含有少量金红石相的混晶结构。采用的基体与绝缘介质之间的短间隙距离为0.1~3mm,气体总流速为0.1~2m/s,TiCl<sub>4</sub>与O<sub>2</sub>的摩尔比为0.005~0.5。采用交流高压电源,其频率范围为50Hz-10kHz。本方法的效果和益处是该制备方法在常温常压下进行,具有装置简单、能耗低和薄膜沉积速率快的特点,适合于各种材质的基体,尤其适合于不耐热的有机高分子基体材料。 |
申请公布号 |
CN100582045C |
申请公布日期 |
2010.01.20 |
申请号 |
CN200710010707.0 |
申请日期 |
2007.03.21 |
申请人 |
大连理工大学 |
发明人 |
朱爱民;丁天英;石川;徐勇 |
分类号 |
C03C17/245(2006.01)I;C23C14/08(2006.01)I;C23C14/40(2006.01)I;C01G23/07(2006.01)I;B01J21/06(2006.01)I;B01J37/00(2006.01)I |
主分类号 |
C03C17/245(2006.01)I |
代理机构 |
大连理工大学专利中心 |
代理人 |
侯明远;李宝元 |
主权项 |
1.一种常温常压下等离子体化学气相沉积制备纳米晶TiO2薄膜的方法,其特征是采用共面式介质阻挡放电,在基体(6)与绝缘介质(2)之间的短间隙产生薄层等离子体,TiCl4蒸气与氧气在薄层等离子体区(8)反应并沉积到基体(6)上,在常温常压下直接制得具有光催化活性的纳米晶TiO2薄膜。 |
地址 |
116024辽宁省大连市甘井子区凌工路2号 |