| 发明名称 | 系统性能描述装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种系统性能描述装置，被搭载在SoC内部，在防止计数器资源变得庞大的同时，测量时间不受限制。各选择器(20a、20b、20c)在描述数据的收集期间，选择各计数器(19a、19b、19c)的规定比特位的比特值，输出到外部。此外，在描述数据的收集结束时，各选择器(20a、20b、20c)选择各计数器(19a、19b、19c)的比规定比特位低位的所有比特位的值，输出到外部。 | ||
| 申请公布号 | CN100583081C | 申请公布日期 | 2010.01.20 |
| 申请号 | CN200680011844.X | 申请日期 | 2006.04.07 |
| 申请人 | 松下电器产业株式会社 | 发明人 | 神崎英之;西村耕造;田中义久 |
| 分类号 | G06F15/78(2006.01)I;G06F11/34(2006.01)I;G06F11/22(2006.01)I | 主分类号 | G06F15/78(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人 | 陈英俊 |
| 主权项 | 1、一种系统性能描述装置，监视片上系统内的总线上的信号，收集该片上系统的系统性能评价用的描述数据，输出到外部，其特征在于，具备：指令检测部，监视上述总线上的信号，检测指令的发生；数据检测部，监视上述总线上的信号，检测数据的传送；第1计数部，根据上述指令检测部的检测结果，对上述指令的发生次数进行计数；第2计数部，根据上述数据检测部的检测结果，对数据的传送次数进行计数；第1选择部，在系统性能评价用的描述数据的收集中，将上述第1计数部的第1比特位的值输出到外部，在描述数据的收集结束后，将比上述第1计数部的上述第1比特位低位的比特位的值输出到外部；以及第2选择部，在系统性能评价用的描述数据的收集中，将上述第2计数部的第2比特位的值输出到外部，在描述数据的收集结束后，将比上述第2计数部的上述第2比特位低位的比特位的值输出到外部。 | ||
| 地址 | 日本大阪府 | ||