| 发明名称 | 电容的测量电路结构 | ||
| 摘要 | 本实用新型涉及一种电容的测量电路结构，包括测量回路和接入该测量回路中的电容测量仪器，其中测量电路结构中还包括至少一个辅助电容元件，辅助电容元件与待测大电容共同串联接入该测量回路中。采用该种结构的电容的测量电路结构，能够利用简单的工具来实现大电容超量程的精确测量，而且结构简单实用，测量过程方便快捷，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。 | ||
| 申请公布号 | CN201387452Y | 申请公布日期 | 2010.01.20 |
| 申请号 | CN200920068209.6 | 申请日期 | 2009.02.27 |
| 申请人 | 上海宝康电子控制工程有限公司 | 发明人 | 顾春荣 |
| 分类号 | G01R27/26(2006.01)I | 主分类号 | G01R27/26(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海智信专利代理有限公司 | 代理人 | 王 洁 |
| 主权项 | 1、一种电容的测量电路结构，包括测量回路和接入该测量回路中的电容测量仪器，其特征在于，所述的测量电路结构中还包括至少一个辅助电容元件，所述的辅助电容元件与待测电容共同串联接入该测量回路中。 | ||
| 地址 | 201901上海市宝山区杨行工业园区锦富路298号 | ||