发明名称 一种功率放大器的批量检测方法和装置
摘要 本发明公开了一种功率放大器的批量检测方法和装置,其包括:功率分路模块,用于将射频信号源产生的射频信号进行分路,并分别送入到多个待测试的功率放大器中作为功率放大器的输入信号;大功率衰减器模块,用于对多个待测试的功率放大器输出的多路信号进行衰减,并获得多路检测信号;功率检测模块,用于对多路检测信号分别进行耦合、并检测功率值;及一控制电路模块,用于对功率放大器的输入信号进行调节、读取功率检测值并存储。采用上述本发明提供的方法和装置,可以在不增加仪器及工位成本的条件下,大大提高了功率放大器批量生产时的检测速度和效率,同时,也为功放的批量动态高温老化提供了途径。
申请公布号 CN100582801C 申请公布日期 2010.01.20
申请号 CN200710077551.8 申请日期 2007.11.29
申请人 中兴通讯股份有限公司 发明人 郭文锋
分类号 G01R31/28(2006.01)I;G01R21/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 1、一种功率放大器的批量检测装置,该装置包括一射频信号源,其特征在于,所述装置还包括:功率分路模块,该模块串联在所述射频信号源与多个待测试的功率放大器之间,用于将所述射频信号源产生的射频信号进行分路,并分别送入到多个待测试的功率放大器中作为功率放大器的输入信号;大功率衰减器模块,用于对多个待测试的功率放大器输出的多路信号进行衰减,并获得多路检测信号;功率检测模块,用于对所述多路检测信号分别进行耦合、并检测功率值;及一控制电路模块,用于对所述功率放大器的输入信号进行调节、读取功率检测值并存储,该模块的射频链路控制端连接所述功率分路模块的控制端,该模块的功率检测输入端连接所述功率检测模块的输出端。
地址 518057广东省深圳市南山区高新技术产业园科技南路中兴通讯大厦法务部