| 发明名称 | 半导体存储介质的寿命预警方法、系统及装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种半导体存储介质的寿命预警方法和使用该方法的系统及装置，所述方法包括步骤：获取半导体存储介质寿命信息；根据获取的半导体存储介质寿命信息进行预警。本发明采用了预警的方式来实现半导体存储介质的寿命的提示，在半导体存储介质达到使用极限之前作出警告，使用户在使用时知道半导体存储介质寿命何时达到极限，这样可以在存储设备老化前对重要数据及时进行备份，保护了数据的安全性，避免了数据的丢失。 | ||
| 申请公布号 | CN101625901A | 申请公布日期 | 2010.01.13 |
| 申请号 | CN200810068480.X | 申请日期 | 2008.07.10 |
| 申请人 | 深圳市朗科科技股份有限公司 | 发明人 | 卢赛文 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01)I;G06F12/00(2006.01)I;G06F3/06(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京英赛嘉华知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 胡海国;王艳春 |
| 主权项 | 1、一种半导体存储介质寿命预警方法，其特征在于，包括步骤：获取半导体存储介质寿命信息；根据获取的半导体存储介质寿命信息进行预警。 | ||
| 地址 | 518057广东省深圳市南山区高新南一道中国科技开发院孵化大楼六楼 | ||