| 发明名称 | 具有测试装置的存储模块 | ||
| 摘要 | 一种存储模块(9)，使设置在存储模块(9)的印刷电路板(7)上之复数个积体存储芯片(1，2，3，4)的模块内部、交叉芯片电功能测试成为可能。为此，本案提供一种测试装置(5)，其与该存储芯片分开地设置在该印刷电路板(7)上。该测试装置依靠由外部测试器(10)所提供的一时钟讯号(T)且其本身并无法指示一测试结果，但其可产生执行功能测试所需要的测试讯号，且将它们藉由控制线路(11)、地址线路(12)、数据线路(13)以及用以选择个别的存储芯片的线路而转交给后者。本案的测试功能系被部分整合至测试装置中，以致于可不受外部电磁干扰的影响，且没有存储模块空间需求的过度增加。 | ||
| 申请公布号 | CN100580815C | 申请公布日期 | 2010.01.13 |
| 申请号 | CN200310113107.9 | 申请日期 | 2003.12.22 |
| 申请人 | 因芬尼昂技术股份公司 | 发明人 | A·贾科布斯 |
| 分类号 | G11C29/00(2006.01)I;G06F11/26(2006.01)I;G06F13/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京康信知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 余 刚;李丙林 |
| 主权项 | 1.一种具有一电子印刷电路板(7)与设置于其上之复数个积体存储芯片(1，2，3，4)之存储模块(9)，该存储模块(9)系具有一测试装置(5)，藉由其帮助而使执行至少一该存储芯片(1，2，3，4)的电功能测试成为可能，其中该测试装置(5)系被与该存储芯片(1，2，3，4)分开地设置在该印刷电路板(7)上，以及其系以一种方式来设计，该方式系为如果在该存储模块外部产生的一时钟讯号(T)被馈入，其产生一控制命令(COM)、一地址命令(ADR)以及将被储存的一数据值(DQ)，并将他们转交给该复数个积体存储芯片(1，2，3，4)的每个存储芯片(1；2；3；4)；该存储模块(9)具有控制线路(11)与地址线路(12)，用以转交该控制命令(COM)与地址命令(ADR)，其系将该存储芯片(1，2，3，4)连接至该测试装置(5)，且其在每个状况中具有从该控制线路(11)与该地址线路(12)出发而向该复数个存储芯片(1，2，3，4)的所有的该存储芯片(1，2，3，4)分支之节点(16)；该存储模块(9)具有一另外的线路(13)，其系在每一状况中，将一个别的存储芯片(1；2；3；4)连接至该测试装置(5)，以及如果一交叉-存储-芯片功能测试被执行时，该存储芯片(1，2，3，4)可以被个别地激活与取消。 | ||
| 地址 | 德国慕尼黑 | ||