发明名称 封装导电结构及其制造方法
摘要 本发明是一种用于半导体基材的封装导电结构及其制造方法,该封装导电结构包含一凸块下金属层覆盖于半导体基材的衬垫上,然后于凸块下金属层上设置至少一辅助件,再覆盖一凸块导电层,最后再设置一凸块于凸块导电层上。借此,该凸块可通过凸块下金属层及凸块导电层,与半导体基材的衬垫电性连接,并提供较佳的接合缓冲能力及导电性质。
申请公布号 CN100580915C 申请公布日期 2010.01.13
申请号 CN200710084093.0 申请日期 2007.02.16
申请人 南茂科技股份有限公司 发明人 齐中邦
分类号 H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/485(2006.01)I
代理机构 上海专利商标事务所有限公司 代理人 任永武
主权项 1.一种封装导电结构,用于一半导体基材,该半导体基材上包含一衬垫,该封装导电结构包含:一凸块下金属层,与该半导体基材的衬垫电性连接,其中该凸块下金属层具有一中央区域及一周缘区域,以形成一容置空间;至少一辅助件,设置于该容置空间内,且于该凸块下金属层的中央区域上;一凸块导电层,覆盖于该凸块下金属层及该至少一辅助件;以及一凸块,设置于该凸块导电层上;其中,该凸块下金属层是于该中央区域与该衬垫接合,借此,该凸块通过该凸块导电层及该凸块下金属层,可与该半导体基材的衬垫电性连接。
地址 台湾省新竹县新竹科学工业园区宝山乡研发一路一号