发明名称 |
封装导电结构及其制造方法 |
摘要 |
本发明是一种用于半导体基材的封装导电结构及其制造方法,该封装导电结构包含一凸块下金属层覆盖于半导体基材的衬垫上,然后于凸块下金属层上设置至少一辅助件,再覆盖一凸块导电层,最后再设置一凸块于凸块导电层上。借此,该凸块可通过凸块下金属层及凸块导电层,与半导体基材的衬垫电性连接,并提供较佳的接合缓冲能力及导电性质。 |
申请公布号 |
CN100580915C |
申请公布日期 |
2010.01.13 |
申请号 |
CN200710084093.0 |
申请日期 |
2007.02.16 |
申请人 |
南茂科技股份有限公司 |
发明人 |
齐中邦 |
分类号 |
H01L23/485(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/485(2006.01)I |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
任永武 |
主权项 |
1.一种封装导电结构,用于一半导体基材,该半导体基材上包含一衬垫,该封装导电结构包含:一凸块下金属层,与该半导体基材的衬垫电性连接,其中该凸块下金属层具有一中央区域及一周缘区域,以形成一容置空间;至少一辅助件,设置于该容置空间内,且于该凸块下金属层的中央区域上;一凸块导电层,覆盖于该凸块下金属层及该至少一辅助件;以及一凸块,设置于该凸块导电层上;其中,该凸块下金属层是于该中央区域与该衬垫接合,借此,该凸块通过该凸块导电层及该凸块下金属层,可与该半导体基材的衬垫电性连接。 |
地址 |
台湾省新竹县新竹科学工业园区宝山乡研发一路一号 |