发明名称 背光单元及其测试方法、液晶模组及其测试方法
摘要 本发明公开了一种背光单元及其测试方法、液晶模组及其测试方法,涉及液晶显示设备制造技术领域,为使光学膜片更换操作简单而发明。所述背光单元,包括中框,所述中框具有第一凹槽,所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板,在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙,所述光学膜片通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框。所述背光单元测试方法包括:通过所述第一缝隙从所述中框内取出原有的光学膜片;通过所述第一缝隙将新的光学膜片插入所述中框;点亮背光源,在新的光学膜片的作用下测试背光单元的光学指标。本发明还公开了一种液晶模组及其测试方法。本发明可用于测试背光单元或液晶模组的光学指标。
申请公布号 CN101625473A 申请公布日期 2010.01.13
申请号 CN200910162586.0 申请日期 2009.08.03
申请人 青岛海信电器股份有限公司 发明人 张建中;赵仁智
分类号 G02F1/1333(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I 主分类号 G02F1/1333(2006.01)I
代理机构 北京中博世达专利商标代理有限公司 代理人 申 健
主权项 1、一种背光单元,包括中框,所述中框具有第一凹槽,所述第一凹槽中并行设有光学膜片和液晶面板,所述光学膜片透射出的光线能够射入所述液晶面板,其特征在于,在所述第一凹槽中对应所述光学膜片的位置处设有第一缝隙,所述光学膜片通过所述第一缝隙从所述中框内取出或插入所述中框。
地址 266100山东省青岛市崂山区株洲路151号