发明名称 使用原子层沉积来沉积薄层的方法
摘要 本发明提供使用一电浆原子层沈积(ALD)制程来沈积一薄层之方法,该方法系包括:投入包含金属原子之一有机化合物来源与包含金属原子之一无机化合物来源此两者之一至一反应腔,在此反应腔中,一晶圆已载入其中;将来源从该反应腔清泄;投入一第一反应物至该反应腔;将该第一反应物之一未反应部分及该来源反应所产生之副产品从该反应腔清泄;当投入一第二反应物至该反应腔时,施予电浆,以改善薄层之品质;以及将第二反应物之一未反应部分及该来源与该第二反应物反应所产生之副产品从该反应腔清泄。重复一循环,该循环系包括:投入该来源、清泄该来源、投入该第一反应物、清泄该第一反应物之未反应部分与副产品、投入该第二反应物时施予该电浆、及清泄该第二反应物之未反应部分与副产品,直到该薄层沈积于该晶圆上。
申请公布号 TWI319442 申请公布日期 2010.01.11
申请号 TW095102046 申请日期 2006.01.19
申请人 IPS股份有限公司 发明人 金秀铉;李相奎;徐泰旭;李相忍;张镐承
分类号 C23C16/00;H01L21/205 主分类号 C23C16/00
代理机构 代理人 桂齐恒;阎启泰
主权项 一种使用一电浆ALD(原子层沈积)制程来沈积一薄层之方法,该方法系包括:重复一个次循环(sub-cycle)n次,n>1,此次循环系包括:投入包含金属原子之一有机化合物来源与包含金属原子之一无机化合物来源此两者之一至一反应腔,在此反应腔中,一晶圆已载入其中、将来源从该反应腔清泄、投入一第一反应物至该反应腔、及将该第一反应物之一未反应部分及该来源反应所产生之副产品从该反应腔清泄;当投入一第二反应物至该反应腔时,施予电浆,以改善薄层之品质;以及将第二反应物之一未反应部分及该来源与该第二反应物反应所产生之副产品从该反应腔清泄;其中,重复一循环,该循环系包括:重复该次循环n次、投入该第二反应物时施予该电浆、及清泄该第二反应物之未反应部分与副产品,直到该薄层沈积于该晶圆上。
地址 南韩