发明名称 TEST ARRAY AND METHOD FOR TESTING MEMORY ARRAYS
摘要
申请公布号 KR100935645(B1) 申请公布日期 2010.01.07
申请号 KR20020065107 申请日期 2002.10.24
申请人 发明人
分类号 G01R31/28;G11C29/00;G11C29/12;G11C29/18;G11C29/48;H01L21/66 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
地址