发明名称 一种有效的静电放电保护电路
摘要 静电放电ESD(ElectrostaticDischarge)是当今集成电路中最重要的可靠性问题之一。随着集成电路制造技术的发展,特征尺寸的不断缩小,抗静电的能力越来越弱,但在微电子制造和使用的环境中,器件遭受ESD的机会却越来越多,这使得ESD对集成电路的影响也越来越大,ESD损伤成为新工艺上关注的焦点。本发明正是从这一基本出发点开始,打破传统的简单的ESD保护电路的局限,既从结构上对ESD保护电路进行改进,而且从版图布局、设计规则上加以考虑,但工艺制作流程却又同常规的BICMOS工艺基本一致,这样既能保证集成电路有较好的ESD保护能力,又不至于使工艺复杂化,这样既提高了电路的可靠性能,而又不会增加成本,提高了电路的竞争力。
申请公布号 CN101621198A 申请公布日期 2010.01.06
申请号 CN200910032617.0 申请日期 2009.06.29
申请人 无锡市晶源微电子有限公司 发明人 朱伟民;马晓辉;聂卫东;陈东勤
分类号 H02H9/00(2006.01)I 主分类号 H02H9/00(2006.01)I
代理机构 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人 叶连生
主权项 1.一种有效的静电放电保护电路,其特征在于该保护电路分为CMOS部分的保护电路和双极部分的保护电路;用于CMOS保护电路时,第一NMOS管(N1)、第二NMOS管(N2)串联连接,即:第一NMOS管(N1)的源极接第一电源(VDD),第一NMOS管(N1)的漏极接第二NMOS管(N2)的源极,第二NMOS管(N2)的漏极接第二电源(VSS);第一NMOS管(N1)的栅极接被保护的集成电路CMOS部分的管脚即静电输入端(ESD---PIN)并通过限流电阻(R1)接CMOS内部电路;第二NMOS管(N2)的栅极接第二电源(VSS)。
地址 214028江苏省无锡市国家高新技术产业开发区106-C地块A幢209室