发明名称 对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法
摘要 本发明涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10)。将来自第一光子感应元件(20)的事件记录在第一积分器(24)中,并将来自第二光子感应元件(22)的事件记录在第二积分器(26)中。提供第一求和单元(28),用于对来自第一和第二积分器(24、26)的值以及结果信号进行求和,以获得总和,其中从设有总和的反馈设备(30)中获得所述结果信号。有可能降低撞击光子(12、14)生成的总信息密度,使得在输出端(34)呈现具有降低信息密度(或降低数据速率)的数据流。本发明还涉及基于对X射线光子(12、14)进行探测的、特别是用于医疗用途的成像设备(16),以及涉及对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的方法。
申请公布号 CN101622551A 申请公布日期 2010.01.06
申请号 CN200880006243.9 申请日期 2008.02.22
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 C·博伊默;C·赫尔曼;R·斯特德曼布克;G·蔡特勒
分类号 G01T1/17(2006.01)I;G01T1/29(2006.01)I 主分类号 G01T1/17(2006.01)I
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 王 英;刘炳胜
主权项 1、一种对X射线光子(12、14),特别是计算机断层成像中的光子进行计数的装置(10),其包括适于将撞击光子(12、14)转变为可计数的事件的布置(18),并且至少具有第一光子感应元件(20)和第二光子感应元件(22),所述装置(10)进一步包括:输出端(34),其适于提供有关计数的光子(12、14)数量的信息,至少包括与所述第一光子感应元件(20)耦合的第一积分器(24)和与所述第二光子感应元件(22)耦合的第二积分器(26),进一步包括对所述第一和所述第二积分器(24、26)的输出进行求和的第一求和单元(28),将所述第一求和单元(28)耦合到向所述输出端(34)提供结果信号的反馈设备(30),将所述结果信号进一步提供给所述第一求和单元(28),以及提供给所述第一和所述第二积分器(24、26),从而由所述撞击光子(12、14)生成的总信息密度作为降低的信息密度抵达所述输出端。
地址 荷兰艾恩德霍芬