发明名称 |
半导体装置的制造方法及半导体装置 |
摘要 |
本发明公开一种半导体装置的制造方法及半导体装置,该半导体装置的制造方法包括以下步骤:a)提供一基板;b)附着一芯片至该基板的一表面;c)形成若干个导电元件以电性连接该芯片及该基板;d)形成若干个第一导体于该基板的该表面;e)形成一封胶材料以包覆该基板的该表面、该芯片、这些导电元件及这些第一导体;及f)去除该封胶材料的一外围区域,使得该封胶材料具有至少两个高度,且暴露出这些第一导体的一端。通过这种方式,该封胶材料会包覆该基板的整个该表面,因此不会污染该表面上的焊垫。 |
申请公布号 |
CN100578745C |
申请公布日期 |
2010.01.06 |
申请号 |
CN200710167235.X |
申请日期 |
2007.10.30 |
申请人 |
日月光半导体制造股份有限公司 |
发明人 |
吴彦毅;宋威岳;张简宝徽;李政颖;翁国良;朱吉植 |
分类号 |
H01L21/50(2006.01)I;H01L21/56(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L23/488(2006.01)I;H01L25/00(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/50(2006.01)I |
代理机构 |
上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) |
代理人 |
翟 羽 |
主权项 |
1.一种半导体装置的制造方法,包括以下步骤:a)提供一第一基板,该第一基板具有一第一表面及一第二表面;b)附着一第一芯片至该第一基板的第一表面;c)形成若干个第一导电元件以电性连接该第一芯片及该第一基板;d)形成若干个第一导体于该第一基板的第一表面;及e)形成一第一封胶材料以包覆该第一基板的第一表面、该第一芯片及这些第一导电元件;其特征在于:在步骤e)中,该第一封胶材料还包覆这些第一导体,该半导体装置的制造方法还包括以下步骤:f)去除该第一封胶材料的一外围区域,使得该第一封胶材料具有一第一顶面及一第二顶面,该第一顶面及该第二顶面具有不同高度,其中该第二顶面为一切割面,且暴露出这些第一导体的一端,该第二顶面具有若干条切割纹路,位于该第二顶面四边的该切割纹路为平行,位于该第二顶面四个角落的该切割纹路为垂直交错。 |
地址 |
中国台湾高雄市楠梓加工出口区经三路26号 |