发明名称 Betriebsverfahren für eine Magnetresonanzanlage mit Kompensa-tion von Maxwell-Termen zweiter Ordnung
摘要 Eine Magnetresonanzanlage weist ein Grundmagnetsystem (1) auf, mittels dessen in einem Untersuchungsvolumen (2) der Magnetresonanzanlage ein zeitlich statisches, örtlich homogenes Grundmagnetfeld (B0) generierbar ist. Sie weist weiterhin mindestens ein Hochfrequenzsystem (4) auf, mittels dessen ein im Untersuchungsvolumen (2) angeordnetes Untersuchungsobjekt (5) zu Magnetresonanzen anregbar ist und mittels desse im Untersuchungsobjekt (5) angeregte Magnetresonanzen empfangbar sind. Auch weist sie ein Überlagerungssystem (6) auf, mittels dessen das Untersuchungsvolumen (2) mit Überlagerungsfeldern (Bx, By, Bz, B1, B2, B3, B4, B4', B4'') beaufschlagbar ist, so dass das Grundmagnetfeld (B0) und die Überlagerungsfelder (Bx, By, Bz, B1, B2, B3, B4, B4', B4'') sich zu einem Gesamtfeld (B) überlagern. Das Überlagerungssystem (6) umfasst zumindest ein System erster Ordnung (7) und ein System zweiter Ordnung (13). Das System erster Ordnung (7) ist derart ausgebildet, dass von ihm Felder (Bx, By, Bz) generierbar sind, die in erster Näherung eine Ortsabhängigkeit erster Ordnung aufweisen. Das System zweiter Ordnung (13) ist derart ausgebildet, dass von ihm Felder (B1, B2, B3, B4, B4', B4'') generierbar sind, die in erster Näherung eine Ortsabhängigkeit zweiter Ordnung aufweisen. Einer Steuereinrichtung (8) der Magnetresonanzanlage sind ein Sollgradient (G*) und ein Korrekturvolumen (V) vorgegeben. Die Steuereinrichtung (8) ...
申请公布号 DE102008028773(A1) 申请公布日期 2009.12.31
申请号 DE200810028773 申请日期 2008.06.17
申请人 SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT 发明人 FEIWEIER, THORSTEN
分类号 G01R33/385;A61B5/055;G01R33/421;G01R33/565 主分类号 G01R33/385
代理机构 代理人
主权项
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