| 摘要 |
Способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий, в соответствии с которым проводят измерение значения информативного параметра изделий до, после механических испытаний и после испытаний на воздействие электростатического разряда, отличающийся тем, что механические испытания и воздействия электростатических разрядов осуществляют при значениях максимально допустимых по техническим условиям, а отбор партий полупроводниковых изделий осуществляют сравнивая минимальные, средние и максимальные значения информативного параметра до и после испытаний. |
