发明名称 |
Durch-Substrat-Via-Halbleiterkomponenten |
摘要 |
Eine Struktur und ein Verfahren zum Ausbilden von Durch-Substrat-Vias beim Ausbilden von Halbleiterkomponenten werden beschrieben. Bei einer Ausführungsform beschreibt die Erfindung ein Verfahren zum Ausbilden eines Durch-Substrat-Vias durch teilweises Füllen einer Öffnung mit einem Füllmaterial und Ausbilden einer ersten Isolierschicht über dem ersten Füllmaterial, wodurch über der Öffnung ein Spalt ausgebildet wird. Das Verfahren beinhaltet weiterhin das Ausbilden einer zweiten Isolierschicht zum Schließen des Spalts, wodurch innerhalb der Öffnung ein eingeschlossener Hohlraum ausgebildet wird.
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申请公布号 |
DE102009012594(A1) |
申请公布日期 |
2009.12.24 |
申请号 |
DE20091012594 |
申请日期 |
2009.03.11 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG |
发明人 |
BIRNER, ALBERT;HOECKELE, UWE;KUNSTMANN, THOMAS;SEIDEL, UWE |
分类号 |
H01L21/60;H01L23/50 |
主分类号 |
H01L21/60 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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