| 发明名称 | 具有用于测试快闪存储器的串行接口的嵌入式架构 | ||
| 摘要 | 本发明揭示一种快闪存储器装置，其包含快闪存储器阵列、一组非易失性冗余寄存器、串行接口及耦合到所述串行接口的测试逻辑，所述测试逻辑经配置以接受来自外部测试器的串行命令集；擦除所述阵列；用测试模式编程所述阵列；读取所述阵列且将结果与所期望的结果相比较以识别错误；确定是否可通过替代所述阵列的冗余行或列来修复所述错误，且如果是这样的话，那么产生冗余信息；及将所述冗余信息编程到所述非易失性冗余寄存器中。 | ||
| 申请公布号 | CN101611456A | 申请公布日期 | 2009.12.23 |
| 申请号 | CN200880005124.1 | 申请日期 | 2008.02.15 |
| 申请人 | 爱特梅尔公司 | 发明人 | 里卡尔多·雷焦里;法比奥·塔桑卡塞;米雷拉·马尔塞拉;莫尼卡·马尔齐亚尼 |
| 分类号 | G11C29/12(2006.01)I;G11C29/32(2006.01)I;G11C29/00(2006.01)I | 主分类号 | G11C29/12(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 | 代理人 | 孟 锐 |
| 主权项 | 1、一种快闪存储器装置，其包含：快闪存储器阵列；一组非易失性冗余寄存器；串行接口；测试逻辑，其耦合到所述串行接口且经配置以：接受来自外部测试器的串行命令集；擦除所述阵列；用测试模式编程所述阵列；读取所述阵列并将结果与所期望的结果相比较以识别错误；确定是否可通过替代所述阵列的冗余行或列来修复所述错误，且如果是这样的话，那么产生冗余信息；及将所述冗余信息编程到所述非易失性冗余寄存器中。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||