发明名称 | 半导体装置及其制造方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种半导体装置(20、21、22),它包括:沟道区域(4),在半导体基板(1)的表层部上形成,是第1导电型;源极区域(25),形成在贯通该沟道区域(4)形成的沟槽(17)的边缘部上,是与上述第1导电型不同的第2导电型;漏极区域(2),在与上述沟槽(17)的底部邻接的区域上形成,是上述第2导电型;栅极绝缘膜(13),沿着上述沟槽(17)的内侧壁形成;栅极电极(26、36),在上述沟槽(17)内,配置为隔着上述栅极绝缘膜(13)与上述沟道区域(4)对置;导电层(37、40、40a、40b),形成在上述沟槽(17)内,比上述栅极电极(26、36)更靠漏极区域(2)一侧;以及,绝缘层(15),覆盖上述导电层(37、40、40a、40b)的周围,使上述导电层(37、40、40a、40b)、上述栅极电极(26、36)以及上述漏极区域(2)之间电绝缘。 | ||
申请公布号 | CN100573911C | 申请公布日期 | 2009.12.23 |
申请号 | CN200380109242.4 | 申请日期 | 2003.12.12 |
申请人 | 罗姆股份有限公司 | 发明人 | 高石昌 |
分类号 | H01L29/78(2006.01)I | 主分类号 | H01L29/78(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 刘 建 |
主权项 | 1.一种半导体装置,其特征在于,包括:沟道区域,为第1导电型,形成在半导体基板的表层部上;源极区域,为不同于所述第1导电型的第2导电型,在贯通该沟道区域的具有深度的沟槽的边缘部上形成;漏极区域,为所述第2导电型,形成在与所述沟槽的底部相邻的区域中;栅极绝缘膜,沿着所述沟槽的内侧壁形成;栅极电极,配置为在所述沟槽内、隔着所述栅极绝缘膜与所述沟道区域对置;导电层,在所述沟槽内,形成为比所述栅极电极更靠所述漏极区域一侧;以及,绝缘层,覆盖所述导电层周围,使所述导电层、所述栅极电极以及所述漏极区域之间电绝缘,所述半导体装置含有多个所述导电层,所述多个导电层在沟槽的深度方向上排列,且在这多个导电层之间配置有所述绝缘层。 | ||
地址 | 日本京都府 |