Probenbearbeitungssystem und Probenbearbeitungsverfahren für einen Spurendetektor

摘要

Es werden ein Probenbearbeitungssystem und ein Probenbearbeitungsverfahren für einen Spurendetektor offenbart. Das System umfasst ein Probenahmesubstrat zum Entnehmen einer Substanz oder von Substanzen von der Oberfläche eines zu testenden Objekts, indem das Probenahmesubstrat mit der Oberfläche des Objekts in Berührung gebracht wird, sowie einen Spurendetektor. Der Spurendetektor umfasst eine mit einem Probeneinspeisteil versehene Probeneinspeisvorrichtung. Die durch das Probenahmesubstrat entnommene Substanz kann auf eine Oberfläche des Probeneinspeisteils transferiert werden, so dass die auf die Oberfläche des Probeneinspeisteils transferierte Substanz erfasst werden kann. Bei der Konfiguration mancher Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung wird ein aus chemischen Fasern hergestelltes Probenahmesubstrat dazu verwendet, eine Probe von der Oberfläche eines zu testenden Objekts zu entnehmen, indem das Probenahmesubstrat mit der Oberfläche des zu testenden Objekts in Berührung gebracht wird. Die durch das Probenahmesubstrat entnommene Probe wird mechanisch auf einen Metallfilm bzw. ein Metallgeflecht der Probeneinspeisvorrichtung des Spurendetektors transferiert. Dann wird der Metallfilm bzw. das Metallgeflecht der Probeneinspeisvorrichtung erhitzt, um die Probe zu verdampfen und um den Probendampf in den Spurendetektor hinein freizusetzen. Deshalb kann die Effizienz von Probenentnahme- und -desorptionsprozessen verbessert werden. Außerdem kann das direkte ...