基于带电粒子测量的统计层析重建

摘要

用于带电粒子探测的系统、装置、计算机程序产品和方法包括带电粒子层析数据的物体体积散射密度剖面的统计重建，以使用统计多重散射模型确定带电粒子散射的概率分布，并使用期望最大化(ML/EM)算法确定物体体积散射密度的实质最大似然性估计，以重建物体体积散射密度。能够从所重建的体积散射密度剖面中识别占据感兴趣的体积的物体的存在和/或类型。带电粒子层析数据可以是来自扫描包裹、集装箱、车辆或货物的μ介子跟踪器的宇宙射线μ介子层析数据。能够使用可在计算机上执行的计算机程序实现这样的方法。

主权项

如下定义了其中请求保护专有财产或权利的发明的实施例。具有这样描述的、请求保护的发明为：1.一种从带电粒子层析数据中探测物体体积的方法，所述带电粒子层析数据从所述物体体积中获得，所述方法包含：(a)获得与穿过物体体积的带电粒子的散射角度和估计动量相对应的预定带电粒子层析数据；(b)提供用于期望最大化(ML/EM)算法的带电粒子散射的概率分布，所述概率分布基于统计多重散射模型；(c)使用所述期望最大化(ML/EM)算法确定物体体积散射密度的实质最大似然性估计；以及(d)基于所述实质最大似然性估计输出重建的物体体积散射密度。