| 发明名称 | 通用串行总线测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种通用串行总线测试方法，本方法包括下列步骤。首先，取得待测机台上控制芯片的信息。接着，依据此信息以取得该控制芯片的通用串行总线的数量。选择所述通用串行总线端口的其中之一为一测试端口。对该控制芯片下达测试指令，以触发该控制芯片对该测试端口进行测试。藉此，可不须透过驱动即可进行测试通用串行总线。 | ||
| 申请公布号 | CN101604276A | 申请公布日期 | 2009.12.16 |
| 申请号 | CN200810099636.0 | 申请日期 | 2008.06.13 |
| 申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 李华庆;范文纲 |
| 分类号 | G06F11/267(2006.01)I | 主分类号 | G06F11/267(2006.01)I |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 陈 亮 |
| 主权项 | 1、一种通用串行总线测试方法，其特征在于包括下列步骤：取得待测机台上控制芯片的信息；依据该信息以取得该控制芯片的通用串行总线端口的数量；选择所述通用串行总线端口的其中之一为测试端口；以及对该控制芯片下达测试指令，以触发该控制芯片对该测试端口进行测试。 | ||
| 地址 | 台湾省台北市士林区后港街66号 | ||