发明名称 |
一种双光束地基沉降检测装置及检测方法 |
摘要 |
本发明公开了一种利用激光准直技术及光电检测原理,并采用双光束来检测地基沉降的成套设备和方法,该设备由一个激光器、一个光学准直系统、一个分束镜、两个光电测尺接收装置组成。检测地基沉降时,除待测点外,于无沉降处设参考点和激光器,待测点和参考点各置一光电测尺接收装置。激光器发出的激光经光学准直系统压缩光束发散角,再经分束镜将光束分成相互垂直的两束光,由待测点和参考点的两个光电测尺接收装置接收和读数。各测点前后两次数值之差即为该点位移变化量,再取观测点与参考点位移变化量之差,消除测量过程中激光束所产生的光漂位移量,得到地基的真实沉降量。 |
申请公布号 |
CN101603816A |
申请公布日期 |
2009.12.16 |
申请号 |
CN200910149457.8 |
申请日期 |
2009.06.16 |
申请人 |
昆明理工大学 |
发明人 |
马琨;吴加权 |
分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01B11/02(2006.01)I |
代理机构 |
昆明今威专利代理有限公司 |
代理人 |
赛晓刚 |
主权项 |
1,一种双光束地基沉降检测装置,包括一个激光器(1),一个光学准直系统(2),一个光电测尺接收装置(4A),所述光电测尺接收装置包括硅光电池遮光筒(5)、直流微安表头(6)、数显游标卡尺(7)、游标卡尺数显窗口(8)、固定铁坐(9)、二象硅光电池(10);其特征在于:本装置还包括一个分束镜(3),另一个与(4A)结构相同的光电测尺接收装置(4B),所述分束镜(3)为半反半射透镜。 |
地址 |
650093云南省昆明市五华区学府路253号(昆明理工大学) |