| 发明名称 | 电子部件的测试装置用部件及该电子部件的测试方法 | ||
| 摘要 | 一种电子部件的测试装置用部件及该电子部件的测试方法，其中所述电子部件的测试装置用部件包括：测试板；设置在该测试板的主表面上的突出电极；设置在该测试板的主表面上的定位部，该定位部构造为定位该电子部件；及按压部，其构造为按压由该定位部定位的电子部件，并使得该电子部件的引线部与该突出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接触。 | ||
| 申请公布号 | CN101604000A | 申请公布日期 | 2009.12.16 |
| 申请号 | CN200910006396.X | 申请日期 | 2009.02.16 |
| 申请人 | 富士通微电子株式会社 | 发明人 | 小泉大辅;小桥直人;赤崎裕二 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I | 主分类号 | G01R31/28(2006.01)I |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王玉双;黄 艳 |
| 主权项 | 1.一种电子部件的测试装置用部件，包括：测试板；突出电极，其设置在该测试板的主表面上；定位部，其设置在该测试板的主表面上，该定位部构造为定位该电子部件；及按压部，其构造为按压由该定位部定位的电子部件，并使得该电子部件的引线部与该突出电极接触，从而该引线部发生弹性变形并与该突出电极接触。 | ||
| 地址 | 日本东京都 | ||