发明名称 场效电晶体(FET)
摘要 一种场效电晶体,包含:第一不纯物领域,形成于半导体基板之表面而有一端与通道领域之一端接触,第二不纯物领域,形成于上述半导体基板之表面而有一端与上述通道领域之另一端接触,并形成有最大深度大于上述第一不纯物领域之最大深度,闸极,藉闸绝缘膜形成于上述半导体基板之通道领域上,第一侧壁绝缘膜,形成于上述闸极之上述第一不纯物领域侧之侧壁,第一导电层,接触于上述第一侧壁绝缘膜之侧面并藉电连接于上述第一不纯物领域,而被施加指定电位,第二侧壁绝缘膜,形成于上述闸极之上述第二不纯物质域侧之侧壁,而具有大于上述第一侧壁绝缘膜之宽度,及第二导电层,接触于上述第二侧壁绝缘膜之侧面并藉电连接于上述第二不纯物领域者。
申请公布号 TW168373 申请公布日期 1991.09.01
申请号 TW080207158 申请日期 1990.08.15
申请人 三菱电机股份有限公司 发明人 大井诚;有马秀明;味香夏夫;奥平智仁;蜂须贺敦司
分类号 H01L21/18 主分类号 H01L21/18
代理机构 代理人 赖经臣 台北巿南京东路三段三四六号白宫企业大楼一一一二室
主权项 一种场效电晶体,包含:第一不纯物领域,形成于半导体基板之表面而有一端与通道领域之一端接触,第二不纯物领域,形成于上述半导体基板之表面而有一端与上述通道领域之另一端接触,并形成有最大深度大于上述第一不纯物领域之最大深度,闸极,藉闸绝缘膜形成于上述半导体基板之通道领域上,第一侧壁绝缘膜,形成于上述闸极之上述第一不纯物领域侧之侧壁,第一等电层,接触于上述第一侧壁绝缘膜之侧面并藉电连接于上述第一不纯物领域,而被施加指定电位,第二侧壁绝缘膜,形成于上述闸极之上述第二不纯物领域侧之侧壁,而具有大于上述第一侧壁绝缘膜之宽度,及第二等电层,接触于上述第二侧壁绝缘膜之侧面并藉电连接于上述第二不纯物领域者。
地址 日本