CIRCUIT AND PROCESS FOR MEASURING A VALUE AFFECTING THE CAPACITANCE-VOLTAGE CHARACTERISTIC OF A CAPACITIVE COMPONENT.

摘要

Dans le cas d'un circuit et d'un procédé pour mesurer la grandeur influençant la caractéristique de tension capacité d'un élément capacitif, la précision de mesure et le rapport de la tension perturbatrice du signal sont améliorés en déterminant ladite grandeur à partir de la superficie en dessous de la courbe de la caractéristique de tension capacité.