发明名称 侦测微量萒染物质之方法及装置
摘要 本发明系与监定存在于微量之已知气稣或液态介质中之某一未经监定之作用物所用之仪器与方法相关者,其中包括:在介质中蒐集该物质之样本;过滤并浓缩该样本;至少将一部份样本集存于一已知之作用物上;利用扫瞄电子透纳显微镜(Scanning electron tunnellingMicro- scope SETM),近场光学显微术(near field opticalmicroscopy NFOM)及/或原子作用力显微术(atomic forcemicrorcopy AFM)等项技术来分析所集存之样本以形成一种以上表现出该项待监定物之特性之形象;然后将如此获得之形像与利用相同技术获得之已知物质之形像相比对以监定出该物质。
申请公布号 TW191889 申请公布日期 1992.10.01
申请号 TW080103033 申请日期 1991.04.18
申请人 休斯飞机公司 发明人 波赛尔;罗伦斯
分类号 G01N15/00;G01N21/00 主分类号 G01N15/00
代理机构 代理人 田德俭 台北巿八德路三段八十一号七楼之七
主权项 1.一种用以监定存在于已知之气态或液态介质之 微量待监 定物性质之仪器,其中包括:用以在该介质中蒐集 该待监 定物样本之器具;用以过滤该样本之器具;用以浓 缩该过 滤后之样本以构成一种过滤式浓缩样本之器具;用 以至少 将一部份该过滤式浓缩样本集存于一已知之作用 物上之器 具;在从扫瞄式电子透纳显微术,近场光学显微术 及原子 作用力显微术等项技术中挑选出来之作用物上分 析所集存 之过滤式浓缩样本,以至少形成一个表现该待监定 物特性 形像时所用之器具;以及将扫瞄式电子透纳显微术 ,近场 光学显微术及原子作用力显微数而将该项至少为 一个之形 像与各种已知物质之形像比对以监定出该物质时 所用之器 具。2.一种用以在己知之气态或液态介质中监定 出一种待监定 物质之性质的方法,其中包括在该介质中蒐集该物 质之样 本;过滤该样本以形成一种过滤式样本;浓缩该过 滤式样 本以形成一种浓缩式之过滤样本;至少将该浓缩式 过滤样 本之一部份集存于一已知作用物上;至少利用各项 扫瞄式 电子透纳显微术,近场光学显微术及原子作用力显 微术技 术中之一项,在该作用物上分析该过滤式浓缩样本 ,以至 少形成一项表现待监定物特性之形像;以及从该项 至少为 一个之形象上监定出该项待监定物。3.如申请专 利范围第2项所述之方法,其中进一步包括将 该形像与藉扫瞄式电子透纳显微术,近场光学显微 术及/ 或原子作用力显微术来分析各种已知物质时所出 之此类已
地址 美国