| 摘要 |
L'invention concerne un procédé de calibrage d'une plate-forme de test (5) pour boîtiers (1) hyperfréquences. Selon l'invention, on remplace les motifs étalons conventionnels Thru, Reflect et Line par des boîtiers étalons hyperfréquences remplissant des fonctions similaires, la plate-forme de test (5) étant adaptée en conséquence. L'utilisation de boîtiers étalons permet de conserver la même interface électrique (2, 6) entre chacun des boîtiers (1) et la plate-forme de test (5). L'invention concerne également un procédé de détermination d'une longueur électrique Lc d'une ligne gravée reliant deux accès hyperfréquences (2a, 2b) d'un boîtier étalon hyperfréquence. Le boîtier étalon peut être connecté à la plate-forme de test (5). Selon l'invention, on mesure différentes longueurs électriques de la plate-forme de test (5) afin de pouvoir en déduire la longueur électrique Lc de la ligne gravée du boîtier étalon. L'invention présente l'avantage d'obtenir la longueur élecarique Lc par mesure plutôt que par modélisation.
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