发明名称 | 半导体元件及其制造方法 | ||
摘要 | 一种半导体元件的制造方法。是先于一基底上依序形成闸介电层、多晶矽层与一图案化顶盖层,再以图案化顶盖层为罩幕,图案化多晶矽层以形成一多晶矽闸极。接着,于多晶矽闸极两侧的基底中形成数个LDD区并使LDD区之间的基底成为一通道区。然后,于多晶矽闸极的侧壁上形成间隙壁,再于间隙壁的外侧基底中形成一源极与汲极。之后陆续去除顶盖层及间隙壁。尔后再进行金属矽化制程,将多晶矽闸极完全转变为矽化金属闸极,同时于源极与汲极表面形成一矽化金属层。 | ||
申请公布号 | TWI318427 | 申请公布日期 | 2009.12.11 |
申请号 | TW095123489 | 申请日期 | 2006.06.29 |
申请人 | 联华电子股份有限公司 | 发明人 | 林建廷;陈亮玮;许哲华;马光华 |
分类号 | H01L21/336 | 主分类号 | H01L21/336 |
代理机构 | 代理人 | 詹铭文;萧锡清 | |
主权项 | 一种半导体元件的制造方法,包括:于一基底上依序形成一闸介电层、一多晶矽层与一图案化顶盖层;以该图案化顶盖层为罩幕,图案化该多晶矽层,以形成一多晶矽闸极;于该多晶矽闸极两侧的该基底中形成多数个LDD区,并使该些LDD区之间的该基底成为一通道区;于该多晶矽闸极的侧壁上形成一间隙壁;于该间隙壁外侧的该基底中形成一源极与一汲极;去除该顶盖层;去除该间隙壁;以及在移除该顶盖层与该间隙壁之后,进行一金属矽化制程,使该多晶矽闸极层完全转变为一矽化金属闸极,同时于该源极与该汲极的表面形成一矽化金属层。 | ||
地址 | 新竹市新竹科学工业园区力行二路3号 |