发明名称 判断装置测试用记忆体需求之系统
摘要 测试装置测试用记忆体需求之方法与系统被揭示。在一实施例中,该方法包含读取包括有将被施用至一装置之数个测试向量的一测试档与判断执行该等数个测试向量所需的被要求之一记忆体。
申请公布号 TWI318304 申请公布日期 2009.12.11
申请号 TW097150933 申请日期 2004.03.31
申请人 惠瑞捷()股份有限公司 发明人 海豪 瑞德
分类号 G01R31/3183 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项 一种用以判断装置测试用记忆体需求之系统,包含:用以读取包括有数个测试向量之一测试档并判断执行该等数个测试向量所需的被要求之一记忆体之逻辑构件;以及一测试器,其通讯式地耦合至该逻辑构件以施用该等数个测试向量至一装置。
地址 新加坡