光电子量测标度器

摘要

本发明系有关于用以确认及显示在量测标度器上由上光束源所发射入射光位置之一光电量测标度器。此量测标度器为一合成单元，其包括外型细长之本体（１９），及在本体（１９）中固定安装于电路板（２４）或类似装置之一列分离式不连续之光元件（２５），及其被连接至黏结于电路板（２４）之微处理器（２６）；及在于量测标度器中装置一扩散器（３２），其功能为分散照射强度，使得在量测标度器上之入射光将被分配至多个相互邻接之光元件（２５）上；及此微处理器（２６）其功能在于检测及比较由各个光元件（２５）所发射之光强度，及接着计算宽于强度曲线之重心，以产生输出电流，其使在量测标度器上光束之正确位置被显示在连接至量测标度器之显示器（２７）上。

主权项

1﹒一种光电量测标度器其被建构用以确认及 显示在量测标度器上之入射光之位置,并 由一发射源,例如一雷射发射器发射出光 源,其特征在于此量测标度器为一合成单 元,其包括截面外型细长之本体(19),及 在该本体(19)中固定安装于电路板(24)或 类似装置之一列分立之光电元件(25),及 其被连接至附于电路板(24) 之微处理器(26);及在于 量测标度器中装置一扩散器(32) ,其功能为分散照 射强度,使得在量 测标度器上之入射光将被分配至多个相互 邻接之光电元件(25) 上;及此微处理器(26)其功能在 于检测及比较由各个光电元 件(25)所发射之光强度,及按着计算宽带 强度曲线之重心,以产生输出电流,其便 在站测标度器上光束之正确位置被显示在 连接至量测标度器之显示器(27)上。 2﹒如申请专利范围第1项所述之光电量测标 度器,其特征在于此光检测之光电元件(25)为光电 晶体。 3﹒如申请专利范围第1项或第2项所述之光 电量测标度器,其特征在于一细长型透镜(31)系被 装置于量测标度器上面之开口(28)之中,如此可使 其扩大量测标度器之 检测表面,因此可捕捉光源之可能移动。图示简单 说明: 图式1为本发明包括一列光电元件及 一微处理器量测标度器之纵向概图; 图式2为图式1中所示量测标度器之 横截面图;及 图式3为图示说明量测标度器之检测 原理。