Modul für einen Paralleltester zum Prüfen von Leiterplatten

摘要

Die Erfindung betrifft ein Modul für einen Paralleltester zum Prüfen von Leiterplatten sowie einen Paralleltester, der derartige Module umfasst. Die Module weisen senkrecht zur Ebene des Grundrasters des Paralleltesters stehende Leiterplatten auf, an welchen Kontaktstifte entlang einer Seitenkante angeordnet sind. Die Kontaktstifte liegen mit ihrer Umfangsfläche auf Flachseiten der Leiterplatten auf und stehen an der Seitenkante der Leiterplatte ein Stück über. Sie sind elektrisch und mechanisch mit auf der Leiterplatte ausgebildeten Kontaktfeldern verbunden. Diese Anordnung der Kontaktstifte ist kostengünstig herstellbar, mechanisch stabil und erlaubt die Herstellung von Modulen mit einer hohen Dichte von Kontaktstiften.