发明名称 胎纹深度量测装置
摘要 为了来藉由一包含有一雷射(67)之雷射量测头来量测一机动车辆之轮胎之胎纹深度,该雷射量测头是相关于该机动车辆之轮胎来被置放使得一参考平面相对于该轮胎系具有一精确定位之位置。该雷射(67)之雷射光束(66)是以一角度(α)来被导向通过该参考平面(68)而到达该轮胎胎纹之底部(64)上,藉此,一光点(78)是被产生在该轮胎胎纹之底部(64)上。该光点(78)之位置(e)是由一图像解析感测器(82)所观测。藉此,该轮胎胎纹之深度之一量测值(t)是被获得。
申请公布号 TW341654 申请公布日期 1998.10.01
申请号 TW085105978 申请日期 1996.05.21
申请人 尤亚金.布格 发明人 尤亚金.布格
分类号 G01B11/22 主分类号 G01B11/22
代理机构 代理人 林镒珠 台北巿长安东路二段一一二号九楼
主权项 1.一种用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其系包括有:一具有一雷射(67)之雷射量测头(42)和一信号处理机构,来自该雷射量测头(42)之信号是被施加至该信号处理机构上以产生代表轮胎胎纹深度之输出信号,其中(a)该雷射量测头(42)系包括有一机构用来定位一参考平面(68),该参考平面(68)相关于该要被测试之机动车辆轮胎系位在一精确定位的位置上,此等机构其系包括有一接触表面,该接触表面系位在一相关于该参考平面为在一精确界定之位置上,在此,该雷射量测头(42)系以此一接触表面来和一轮胎相囓合,(b)该雷射(67)是被安排在该雷射量测头(42)中以产生一雷射光束(66),该雷射光束(66)系和该参考平面(68)来形成一角度以允许该雷射光束(66)来撞击在该轮胎胎纹之一胎纹沟槽(62)之底部(64)上,藉此以产生一光点(78),(c)该雷射量测头(42)进一步系包括有一图像解析感测器(82),其系被安排来观察该光点(78)之位置且包括有一列的光敏感侦测器(76),及(d)图像处理机构系被提供,该图像处理机构系用来由该图像解析感测器之位置资料来提供该轮胎胎纹之该胎纹沟糟(62)之胎纹深度之量测値。2.如申请专利范围第1项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该图像解析感测器(82)系包括有该列光敏感侦测器(76)系在一包含该雷射光束(66)轴线之平面上来延伸平行于该参考平面(68),且该图像解析感测器(82)系进一步包括有一机构用来在该列光敏感侦测器(76)上形成在该胎纹沟槽(62)底部(64)上之光点(78)之图像。3.如申请专利范围第2项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该图像形成机构系包括有一具有一缝隙(74)之缝隙遮光器(72),该缝隙(74)系延伸交叉于该列光敏感侦测器(76)。4.如申请专利范图第2项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该胎纹深度量测装置是为一固定单元。5.如申请专利范围第1项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该胎纹深度量测装置系为一机动单元。6.如申请专利范围第5项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其系进一步包括有一电池(28)和一印表机(30)。7.如申请专利范围第6项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该信号处理机构之所有元件、该电池(28)和该印表机(30)是被包含有一共同的壳体中。8.如申请专利范围第7项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该雷射量测头是经由具可挠性的连接机构(14)来和该共同的壳体相连接。9.如申请专利范围第1至8项中任一项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该雷射量测头是可被附接至一杆子(34)之端部上,该杆子(34)系允许该雷射量测头(42)可来被容易地导引至一停放车辆之轮胎(54)上。10.如申请专利范围第9项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之量测装置,其中,该杆子(34)是为z形状,且其是形成一具有一把手端部(36)之弯管,一长条状中间部分(46),和形成另一个承载该雷射量测头(42)之弯管,该另一个弯管系延伸来大致平行于该把手端部(36)。11.一种用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之方法,其系藉由一具有一雷射(67)之雷射量测头(42)来达成之,其中:(a)该雷射量测头(42)系相关于该机动车辆轮胎(54)来被置放使得一参考平面(68)相对于该轮胎系具有一精确定位之位置,(b)该雷射(67)之雷射光束(66)系以一角度()来被导引通过该参考平面(68)而到达该轮胎胎纹之底部(64)上,藉此以在该轮胎胎纹之底部(64)上来产生一光点(78),及(c)该光点(78)之位置是由一图像解析感测器(82)所观察,藉此,该轮胎胎纹深度之量测値是被导出。12.如申请专利范围第11项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之方法,其中,该雷射量测头(42)是被移动通过该轮胎胎纹,藉此,一多数之胎纹沟槽之量测値系被产生,该轮胎胎纹之深度之一量测値系由上述多数胎纹沟槽之量测値来导出。13.如申请专利范围第11或12项之用来量测一机动车辆之轮胎(54)之胎纹深度之方法,其中,由该图像解析感测器(82)所决定之介于该轮胎胎纹深度和该光点(78)位置间之关系,其是由校准来决定之,其中,该校准是被实施在已知道胎纹深度之胎纹上。图式简单说明:第一图是为一立体视图,其显示一用来量测机动车辆轮胎之胎纹深度之可移动量测装置之一实施例。第二图系说明第一图之该量测装置之盖子被移开的情形,藉此该电池和印表机是可被看到。第三图系为一立体视图,其说明使用第一图和第二图之该可移动量测装置来量测一被停放之机动车辆之胎纹深度。第四图系显示一由第一图至第三图之该可移动量测装置所提供之一列印。第五图系为一略图说明,其显示该雷射量测头之操作模式。第六图系为一图表,其说明当使用第五图之该雷射量测头来作为一量测装置时,以该光点之位置为一函数该胎纹沟槽之深度,其中,该光点是由该雷射所产生,且其是被观察在该胎纹沟槽之底部上。第七图是为一立体视图,其显示一用来量测机动车辆轮胎之胎纹深度之可移动量测装置之一第二实施例。
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