发明名称 |
答题卡质量检测装置 |
摘要 |
本实用新型涉及一种答题卡质量检测装置,它包括反射光产生变换电路、透射光产生变换电路、模数转换器、控制器、显示电路,所述的反射光产生变换电路将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器后由控制器进行处理,控制器将相应处的反射值或/和透射值通过显示电路进行显示,通过对照射到答题卡不同位置的反射光及透射光进行采集和处理,得到相应处的发射率和透射率,如果每处的发射率及折射率基本相同,则表明答题卡的质量较好;若同一张答题卡不同处的发射率及折射率差异较大,则表明该答题卡的质量较差,从而需要生产厂家及时调整生产工艺,以保证答题卡的质量。 |
申请公布号 |
CN201355345Y |
申请公布日期 |
2009.12.02 |
申请号 |
CN200920141715.3 |
申请日期 |
2009.02.16 |
申请人 |
苏州科技学院 |
发明人 |
樊斌;沙金巧 |
分类号 |
G01N21/55(2006.01)I;G01N21/59(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/55(2006.01)I |
代理机构 |
苏州创元专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
孙仿卫 |
主权项 |
1、一种答题卡质量检测装置,其特征在于:它包括反射光产生变换电路(1)、透射光产生变换电路(2)、与所述的反射光产生变换电路(1)的输出端和透射光产生变换电路(2)的输出端相连接的模数转换器(3)、与模数转换器(3)的输出端相电连接的控制器(4)、与所述的控制器(4)的输出端相电连接的显示电路(5),所述的反射光产生变换电路(1)将经过待测答题卡反射后的反射信号或/和所述的透射光产生变换电路(2)将经过待测答题卡透射后的透射信号通过模数转换器(3)进行模拟到数字的转换后由控制器(4)进行处理,控制器(4)将答题卡相应处的反射值或/和透射值通过显示电路(5)进行显示。 |
地址 |
215011江苏省苏州市新区滨河路1701号 |