发明名称 半导体等离子处理设备及方法
摘要 一种半导体等离子处理设备,消除了电感耦合等离子源经常产生的侧边基团浓度较高的现象,从而提高了其中的蚀刻均匀性。该设备包括:远程等离子源,用于通过激活处理气体而产生大量的基团和离子;处理室,其具有让被激活的处理气体通过的入口;设置在处理室中的基座,在该基座上安置晶片;以及设置在处理室中的电感耦合等离子源,用于向被激活的处理气体提供高频能量。利用所述的远程和电感耦合等离子源,产生大量的足以进行蚀刻过程的基团和离子,因此,蚀刻反应活泼地进行,从而提高蚀刻效率。
申请公布号 CN100566502C 申请公布日期 2009.12.02
申请号 CN200610001645.2 申请日期 2006.01.20
申请人 细美事有限公司 发明人 金炯俊;李奇英
分类号 H05H1/46(2006.01)I;H01L21/00(2006.01)I;H01L21/3065(2006.01)I;H01L21/311(2006.01)I;H01L21/3213(2006.01)I 主分类号 H05H1/46(2006.01)I
代理机构 北京信慧永光知识产权代理有限责任公司 代理人 武玉琴;黄永武
主权项 1.一种半导体等离子处理设备,包括:远程等离子源,用于激活处理气体而产生基团和离子;具有入口的处理室,所述被激活的处理气体经由该入口流进所述处理室;设置在所述处理室中的基座,在该基座上安置晶片;设置在所述处理室中的电感耦合等离子源,用于向所述被激活的处理气体提供高频能量,以及气体分布板,其包括:一通道,用于将所述被激活的处理气体从远程等离子源直接供入所述处理室;气体入口,非活性气体流入该气体入口,所述气体入口位于所述处理室顶部,并经由所述气体入口将非活性气体均匀地供入所述处理室中,其中,所述处理气体为Cl2、HBr或CF4,所述非活性气体为O2或N2。
地址 韩国忠清南道