发明名称 |
电容结构及其金属层布局 |
摘要 |
一种电容结构及其金属层布局。其中电容结构包含:第一金属层,包含:第一框结构;以及第一条形接片,位于该第一框结构并隔离在该第一框结构内;第二金属层包含:第二框结构;以及第二条形接片,位于该第二框结构并隔离在该第二框结构内;电介质层,形成于该第一金属层与该第二金属层之间。本发明提供的电容结构可以达到更大的单位电容值,且上述电容结构主框可提供额外的屏蔽效应,使本发明的电容结构达到更佳的电性能。 |
申请公布号 |
CN101593777A |
申请公布日期 |
2009.12.02 |
申请号 |
CN200910140735.3 |
申请日期 |
2009.05.13 |
申请人 |
联发科技股份有限公司 |
发明人 |
邱致荣;陈文淋 |
分类号 |
H01L29/92(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I;H01L23/48(2006.01)I |
主分类号 |
H01L29/92(2006.01)I |
代理机构 |
北京万慧达知识产权代理有限公司 |
代理人 |
葛 强;张一军 |
主权项 |
1.一种电容结构,包含:第一金属层,包含第一框结构和第一条形接片,其中,该第一条形接片位于该第一框结构并隔离在该第一框结构内;第二金属层,包含第二框结构和第二条形接片,其中,该第二条形接片位于该第二框结构并隔离在该第二框结构内;以及电介质层,形成于该第一金属层与该第二金属层之间。 |
地址 |
中国台湾新竹科学工业园区新竹市笃行一路一号 |