发明名称 电容结构及其金属层布局
摘要 一种电容结构及其金属层布局。其中电容结构包含:第一金属层,包含:第一框结构;以及第一条形接片,位于该第一框结构并隔离在该第一框结构内;第二金属层包含:第二框结构;以及第二条形接片,位于该第二框结构并隔离在该第二框结构内;电介质层,形成于该第一金属层与该第二金属层之间。本发明提供的电容结构可以达到更大的单位电容值,且上述电容结构主框可提供额外的屏蔽效应,使本发明的电容结构达到更佳的电性能。
申请公布号 CN101593777A 申请公布日期 2009.12.02
申请号 CN200910140735.3 申请日期 2009.05.13
申请人 联发科技股份有限公司 发明人 邱致荣;陈文淋
分类号 H01L29/92(2006.01)I;H01L23/52(2006.01)I;H01L23/48(2006.01)I 主分类号 H01L29/92(2006.01)I
代理机构 北京万慧达知识产权代理有限公司 代理人 葛 强;张一军
主权项 1.一种电容结构,包含:第一金属层,包含第一框结构和第一条形接片,其中,该第一条形接片位于该第一框结构并隔离在该第一框结构内;第二金属层,包含第二框结构和第二条形接片,其中,该第二条形接片位于该第二框结构并隔离在该第二框结构内;以及电介质层,形成于该第一金属层与该第二金属层之间。
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