发明名称 |
一种光平均波长的测量方法及装置 |
摘要 |
一种光平均波长的测量方法及装置,以解决在现有测量平均波长的技术中,存在不能测量宽谱光的波长、测量精度较低、测量误差较大以及稳定工作点较难调的问题。本发明包括将输入的光信号通过相位调制得到两路光,并使经过光纤环传输的两路光产生干涉;接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号,通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。本发明通过将接收的干涉光信号转化为电信号,并通过对电信号的解调得到输入的光信号的平均波长,具有测量精度较高、测量误差较小以及容易测量的特点,可以用于测量光纤传感和光纤通讯领域宽谱光信号的平均波长,也可以用于测量窄谱光信号的平均波长,特别适用于高精度宽谱光平均波长的测量。 |
申请公布号 |
CN101592526A |
申请公布日期 |
2009.12.02 |
申请号 |
CN200910085890.X |
申请日期 |
2009.06.03 |
申请人 |
北京航空航天大学 |
发明人 |
徐宏杰;刘海锋;张春熹;宋凝芳;张忠钢;郭耀仪 |
分类号 |
G01J9/02(2006.01)I;G02B6/24(2006.01)I |
主分类号 |
G01J9/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京凯特来知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郑立明 |
主权项 |
1、一种光平均波长的测量方法,其特征在于,包括:将输入的光信号通过相位调制得到两路光,并使经过光纤环传输的两路光产生干涉;接收干涉的光信号并将所述光信号转换成电信号,通过对电信号解调获得所述输入的光信号的平均波长。 |
地址 |
100083北京市海淀区学院路37号 |