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Un sistema que comprende: un controlador centralizado de auto-test incorporado (BIST) que (4) almacena un algoritmo adaptado para comprobar una pluralidad de módulos (12, 12A) de memoria, que se caracteriza porque la pluralidad de módulos (12, 12A) de memoria tienen requisitos de sincronización y características físicas diferentes, en el que el controlador BIST (4) almacena el algoritmo como un conjunto de comandos generalizados que conforman un protocolo de comandos; y una pluralidad de secuenciadores distribuidos (8, 8A), adaptados para recibir dichos comandos desde el controlador BIST (4), que interpretan los comandos basándose en el protocolo de comandos, y que aplican los comandos generalizados a los módulos (12, 12A) de memoria, en el que cada secuenciador se asocia con uno o más módulos (12, 12A) de memoria y en el que al menos dos de los secuenciadores están asociados con módulos de memoria que tienen requisitos de sincronización y características físicas diferentes.
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