发明名称 Method of determination of temperature gradient and temperature in semiconductor instruments
摘要
申请公布号 PL203921(B1) 申请公布日期 2009.11.30
申请号 PL20020356876 申请日期 2002.10.28
申请人 INSTYTUT TECHNOLOGII ELEKTRONOWEJ 发明人 PIOTROWSKI TADEUSZ;SIKORSKI STANIS&LSTROK,AW
分类号 H01L21/00;G01K7/00;G01R31/00;H01L21/66 主分类号 H01L21/00
代理机构 代理人
主权项
地址