摘要 |
Tecnoscopio para examinar superficies en recintos estrechos, que presenta un vástago (12) en cuyo extremo distal está dispuesto un brazo basculable (14) que puede ser hecho bascular desde una primera posición, en la que el brazo (14) se extiende en la dirección longitudinal (X) del vástago, hasta una segunda posición en la que el brazo (14) se extiende acodado con respecto al eje longitudinal (X) del vástago (12), caracterizado porque en el brazo basculable (14) está ubicado un dispositivo de medida (20) que puede bascular libremente, estando colocado el centro de gravedad del dispositivo de medida (20) a cierta distancia de un eje de basculación (18) alrededor del cual puede bascular libremente dicho dispositivo de medida (20).
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