发明名称 显示面板驱动晶片之测试装置
摘要 一种显示面板驱动晶片之测试装置,系设有一探针座,该探针座具有至少一间隔固定部将该探针座中分割为数个分割区,相邻之分割区对应于待测积体电路晶圆上相邻之晶粒分布;多数个第一探针环设该探针座周围并延伸至相邻分割区之间,多数个第二探针自该探针座外通过该探针座周围与该间隔固定部相邻之处更延伸至该间隔固定部上以朝相邻二该分割区之间弯折有预定之角度,使该些第二探针之针尖及力臂悬设于相邻二该分割区之间以相对并列分布。
申请公布号 TWM369520 申请公布日期 2009.11.21
申请号 TW098212162 申请日期 2009.07.03
申请人 旺矽科技股份有限公司 发明人 张嘉泰
分类号 G09G3/02 主分类号 G09G3/02
代理机构 代理人 刘绪伦
主权项 一种显示面板驱动晶片之测试装置,可同时对呈阵列分布之多数个相邻驱动晶片进行电性测试,包括有:一电路板,系具有相对之一上表面、一下表面、穿设该上、下表面之一测试窗口以及设于该上、下表面之多数个焊垫;一探针座,系具有一周边固定部及至少一间隔固定部,该周边固定部环设于该电路板之测试窗口且环绕该至少一间隔固定部,该周边固定部与该至少一间隔固定部之间形成有数个分割区,相邻各该分割区与上述相邻之驱动晶片相对应分布;以及,多数个第一及第二探针,各该第一及第二探针具有一针尖、一连接部及一针尾,该连接部位于该针尖及针尾之间且固定于该探针座,使该连接部与针尖之间形成一力臂以悬设于该探针座,该针尾电性连接该电路板下表面之焊垫;该第一探针之连接部设于该周边固定部,该第二探针之连接部设于该间隔固定部,该第二探针之针尖位于相邻二该分割区之间,该第二探针之连接部以至针尾系自该间隔固定部朝邻近该周边固定部方向弯折以延伸通过该周边固定部至该探针座外围。
地址 新竹县竹北市中和街155号