| 摘要 |
L'invention concerne un procédé et un dispositif pour la localisation de panne dans un système. Le système comprend un ensemble d'éléments. Les éléments sont reliés en réseau. Chaque élément est associé à un statut de fonctionnement et à une probabilité de défaillance. Le procédé selon comporte les étapes suivantes :▪ pour chacun des éléments présentant un statut indiquant un disfonctionnement désigné élément défectueux, la création, à partir de la topologie du système, d'une expression comprenant des termes correspondant à des éléments du système liés audit élément défectueux,▪ si plusieurs expressions ont été créées à l'étape précédente, la fusion des expressions ayant au moins un terme en commun,▪ Pour chaque expression :○ la suppression des termes de l'expression correspondant à des éléments présentant un statut « sain »,○ le calcul d'une expression minimale à partir de l'expression précédente,○ le calcul des probabilités de défaillance des différents membres de l'expression minimale à partir des probabilités de défaillance des éléments correspondants,○ la localisation de la panne aux éléments correspondants aux membres de l'expression minimale dont le rapport des probabilités de défaillance ramené au temps d'exposition est supérieure à un seuil S1
|
