首页 产品 黄页 商标 征信
会员服务 注册 登录 
全部
 |
企业名
 |
法人/股东/高管
 |
品牌/产品
 |
地址
 |
经营范围
发明名称 Testverfahren für Halbleiterspeicher
摘要
申请公布号 DE60233985(D1) 申请公布日期 2009.11.19
申请号 DE20026033985 申请日期 2002.04.22
申请人 FUJITSU MICROELECTRONICS LTD. 发明人 YAMAZAKI;SUZUKI;NAKAMURA;ETO;MIYO;SATO;YONEDA;KAWAMURA
分类号 G11C29/00;G11C29/36;G11C29/48 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利
©  2024 传众  czvv.com