一种验证专用集成电路中多电源区域设计的方法及系统

摘要

本发明公开了一种验证专用集成电路中多电源区域设计的方法。该方法为：A、所述单板上电后，所述用户终端通过验证软件运行所述芯片中的代码，配置所述第一寄存器关闭该第一寄存器对应的所述功能模块；B、当所述用户终端判断该功能模块对应的第二寄存器的状态参数与预设的状态参数不相符时，确定多电源区域设计存在错误。本发明还公开了一种验证系统。通过使用本发明提供的方法及系统，可以验证在专用集成电路中存在的错误，缩短了专用集成电路验证的周期，降低了验证的费用。

主权项

1、一种验证专用集成电路中多电源区域设计的方法，专用集成电路中的模块分为第一电源区域模块和第二电源区域模块，现场可编程门阵列芯片中保存有所述专用集成电路使用硬件描述语言转换后的代码，所述芯片和测试单板相连，每个所述第二电源区域模块对应一个功能模块，所述功能模块通过所述测试单板与所述芯片相连，所述测试单板与用户终端相连，所述第一电源区域模块包括第一寄存器组和第二寄存器组，一个第一寄存器和一个第二寄存器对应一个所述功能模块，其特征在于，该方法包括：A、所述单板上电后，所述用户终端通过验证软件运行所述芯片中的代码，配置所述第一寄存器关闭该第一寄存器对应的所述功能模块；B、当所述用户终端判断该功能模块对应的第二寄存器的状态参数与预设的状态参数不相符时，确定多电源区域设计存在错误。